sem掃描電鏡的分析室滿足了對元素(EDX，WDS)和晶體學(EBSD)樣品數據日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術的佳定位。由于掃描電鏡的現場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結果。用于光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發光檢測器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產品中完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業研發，質量控制和故障分析應用的理想選擇。
多用戶實驗室需要顯微鏡才能在短時間內產生帶有相關數據的高質量圖像。sem掃描電鏡通過基于四極槍組件的*成像系統滿足了這一需求，該系統在各種束能量和真空條件下都能提供出色的結果。在所有這些條件下，地形圖和成分圖都提供了必要的樣本信息。通過同時采集，該信息可隨時用于進一步的解釋和分析。
查找感興趣的區域甚至查找樣品本身可能是一項繁瑣的工作，但在sem掃描電鏡上則并非如此。室內導航攝像頭(Nav-Cam)提供了樣品架的詳細照片，使操作起來非常容易一個會話中包含多個樣本，然后一個個地導航到它們。在樣本中，只需單擊即可轉到感興趣的區域。導航攝像機圖像隨樣本一起旋轉，因此導航非常直觀。
